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具有温度稳定性的SiC CMOS运算放大器的设计

作者:刘莉 杨银堂 柴常春siccmos运算放大器零温度系数

摘要:设计了具有温度稳定性的SiC CMOS运算放大器。根据所希望的IDSat,(ZTC)和任一节点泄漏电流为零的原则设计偏置电路;输入采用差分输入,同时按照泄漏电流匹配的原则,合理选取Damp的面积。Si M()S器件电源电压为5V,采用TSMC0.25μm工艺制作。当温度从300K变化到600K时,SiC运放的增益和相位裕度的变化率分别为2.5%和3.3%,而Si电路的增益从300K的64dB降到-80dB,失去电路的稳定性。但是,由于SiC MoS器件沟道迁移率低,导致器件的跨导低于相同尺寸下的Si器件,所以其开环增益也小于相同结构和尺寸的Si运算放大器。

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微电子学

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