作者：马晓骏; 童家榕边界扫描现场可编程门阵列可测试性设计器件编程
摘要：针对在FPGA芯片中的应用特点,设计了一种边界扫描电路,应用于自行设计的FPGA新结构之中.该电路侧重于电路板级测试功能的实现,兼顾芯片功能的测试;同时,加入了器件编程功能.在电路设计中采用单触发器链寄存器技术,节省芯片面积.版图设计采用0.6 μm标准CMOS工艺,并实际嵌入FPGA芯片中进行流片.该电路可实现测试、编程功能,并符合IEEE1149.1边界扫描标准的规定,测试结果达到设计要求.
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