作者：张春华 厉璐慧 曹振新微带天线阵列互耦介质边缘效应双同轴馈电圆极化
摘要：紧凑型双馈圆极化微带天线阵列在E面和H面存在严重互耦，会导致天线阵列的整体性能显著下降。为此，设计了二单元圆极化微带天线阵列，建立了参数化HFSS模型，对天线单元间距、辐射基片切向方向边缘效应对E面和H面互耦影响进行了仿真和分析，结果表明存在临界单元间距值。小于该值时，H面的互耦比E面的严重，反之H面的互耦会随着间距加大而显著下降；对于E面互耦，辐射基片切向方向的介质边缘存在对应最小E面互耦的最佳尺寸，但对于H面互耦，介质边缘效应并不显著。进一步设计了具有典型参数值的实物样品．测试结果验证了上述情况，并表明：介质边缘效应只能改善E面互耦，但对H面互耦的改善需要采用其它方法。
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