作者：韦高; 许家栋; 温浩; 李建周微波测量天线罩电厚度检测微波多端口反射计厚度测量天线罩简便方法微波复反射系数双探头厚度检测测量系统测量方法
摘要：提出了一种天线罩电厚度检测的新方法-微波反射式电厚度测量,给出了该方法的基本原理以及相应的测量系统.与通常天线罩壁电厚度的双探头插入相移测量方法相比,采用单探头测量天线罩壁复反射系数,通过复反射系数相位的变化了解天线罩壁电厚度的相对变化,大大简化了设备,降低了测量时对探头机械定位精度的要求,使测量过程简单易行.由于采用单探头,该方法还可测量双探头无法测量的复杂天线罩顶部位.
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