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X射线荧光面扫描分析技术在文物保护中的应用

作者:王永进 周萍 周伟强x射线荧光面扫描文物

摘要:X射线荧光分析法由于其分析速度快、可测元素范围广、检出限低等优点被广泛应用于各个领域。X射线荧光面扫描分析技术将光学图像与元素分析完美地结合,为科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。通过对文物面扫描分析可得到文物整体元素分布图,对研究文物的组成、制作工艺及辩伪有非常重要的意义。

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文博

《文博》(CN:61-1009/K)是一本有较高学术价值的大型双月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《文博》刊登文物考古与博物馆、西安碑林博物馆,刊登文物考古与博物馆事业方面的学术研究成果,包括专题研究、田野考古调查、全国重点文物保护单位及馆藏一级品的介绍与研究和文物的科学保护与管理等。

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