作者：赵治国; 郑浩月强电磁脉冲高空核电磁脉冲电磁安全效应试验
摘要：强电磁脉冲对电子设备的电磁安全造成了严重威胁。为了研究强电磁脉冲环境对电子设备造成的影响程度,选取典型电子计算器作为试验对象,基于高空核电磁脉冲模拟环境,试验分析了不同等级场强环境下被测物的不同响应。试验结果表明,高空核电磁脉冲对电子计算器产生了可恢复性的干扰效应,没有产生损毁效应,干扰现象出现的最低场强峰值为15kV/m。最后,针对强电磁脉冲对电子设备造成的威胁,从系统的角度出发,提出了强电磁安全的防护建议。
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