作者：施庆西; 王陆宾; 王耐东; 于海泳光电耦合器铝电极腐蚀开路
摘要：通过光耦使用过程的数据统计,内部结构分析,失效机理研究,结合光耦应用环境,对影响其质量可靠性的因素进行全面分析,最终找到光电耦合器铝电极开路的产生原因是酸腐蚀,并给出了初步的整改对策。通过此项问题的研究,对全面、系统化提升器件本身质量可靠性起到了重要作用。
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《通信电源技术》（CN：42-1380/TN）是一本有较高学术价值的大型半月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《通信电源技术》紧跟世界通信电源技术发展潮流，结合科研生产实践，及时报导国内外通信电源领域最新应用成果，推广介绍新技术、新产品。
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