基于MIP-MAP技术的纹理区域取样

作者：周建林; 顾耀林计算机应用区域取样各向异性过滤纹理映射反走样

摘要：纹理映射中为了实现反走样，屏幕空间像素被近似看成是正方形，其在纹理空间的投影通常是不规则的曲边四边形，常用一个四边形来逼近。考虑到纹理映射的各向异性，并为了减少计算花费，基于MIP-MAP技术，提出了一种在纹理投影区域取样的方法，并改进了在每一个可选的MIP-MAP层的取样率，以避免在较低层欠取样，在较高层过取样，使能取得比较理想的图像。

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