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ICP—AES测定金属硅中的硼

作者:卞大勇金属硅元素干扰校正程序iec

摘要:本文以氢氟酸和硝酸在聚四氟乙烯容量瓶中直接溶解样品,最大限度避免元素挥发损失。电感耦合等离子体发射光谱仪,测定金属硅中的杂质元素硼。运用了干扰元素校正程序IEC,替代基体匹配法,消除元素干扰,方便快捷,可操作性更强。实验结果表明,回收率为96%-104%,相对标准偏差(RSD)(n=11):2.09%

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天津化工

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