作者：许献国; 杨怀民; 胡建栋核电子学计算机模拟闭锁窗口闭锁路径cmos器件
摘要：中、大规模CMOS器件受到瞬态辐射时,出现了闭锁单窗口、多窗口现象.为了获得闭锁窗口的出现原因,借助对窗口现象的有关参考文献的研究,利用计算机电路模拟软件,分析了CMOS器件多个闭锁路径之间的相互作用.在此基础上,提出了解释窗口现象的"三径"闭锁模型.应指出的是,该闭锁模型还需要试验上的进一步验证与支持.
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