作者：朱仕永; 祖静; 范锦彪存储测试cpld过载加速度
摘要：针对单片机存储测试仪程序可能跑飞、难以实现高速采样，专用集成电路存储测试仪成本高、不能扩展等问题，提出基于CPLD的弹载加速度存储测试仪。该系统采样频率100kHz，可耐30000g高过载，尺寸小，功耗低，测得子弹抛撒加速度曲线，与理论计算吻合很好。
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《探测与控制学报》（CN：61-1316/TJ）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。
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