作者：张伟; 李长青; 刘志朋时域x射线激发荧光广义脉冲谱技术断层成像
摘要：目标为了能够在X射线激发荧光断层成像（XLCT）中同时重建荧光产率和荧光寿命参数分布，进行了时域XLCT方法研究。方法笔者提出了一种基于时间相关单光子计数（TCSPC）技术的时域XLCT方法，并建立了基于广义脉冲谱技术（GPST）的正向模型，通过数值模拟验证时域XLCT方法的可行性。结果能够同时获得荧光产率和荧光寿命参数分布，重建结果具有极高的重建精度和空间分辨率。结论仿真计算结果表明，对于多组分荧光基团，时域XLCT方法能够同时成功重建荧光产率和寿命参数。
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