作者：刘燕新生儿期血糖水平临床分析新生儿低血糖症低出生体重儿神经系统损伤血糖测试仪持续时间
摘要：新生儿低血糖症是新生儿期常见病，尤其多见于早产儿、有窒息史的新生儿、低出生体重儿等高危儿，血糖过低或持续时间过长可造成不可逆的神经系统损伤及智能落后。新生儿低血糖症往往表现不典型，甚至无症状、易漏诊。我院应用微量血糖测试仪对出生72小时内新生儿血糖进行检测，以了解新生儿血糖水平的变化。
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《社区医学》（CN：10-1026/R）是一本有较高学术价值的大型半月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《社区医学》是随着社区卫生服务事业的发展应运而生，办刊宗旨是促进社区卫生事业的发展，促进社区卫生服务人员业务水平的提高，加强社区卫生事业的科学研究，促进社区医学信息的交流。
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