作者：邱光应; 彭桂兰; 陶丹; 王峥荣苹果表面缺陷识别
摘要：在基于机器视觉苹果缺陷识别过程中,因果梗/花萼与缺陷表皮颜色相似,极大地降低苹果表面缺陷识别准确率,提出一种基于决策树支持向量机（DT-SVM）的苹果表面缺陷识别方法。该方法首先采用单阈值法去除背景,其次在R通道中利用Otsu法和连通域标记法提取目标区域（果梗、花萼和缺陷）的颜色、纹理和形状特征,最后利用决策树支持向量机进行识别。以600幅富士苹果图像为例,使用该方法进行缺陷识别,结果表明该方法的平均准确率为97.7%。与1-V-1多分类支持向量机（1-V-1SVM）和AdaBoost分类算法相比,DT-SVM方法正确率高、耗时短。说明决策树支持向量机对苹果表面缺陷识别十分有效。
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