作者：肖旻 张宏怡exit图门限值优化分析
摘要：两边类型低密度奇偶校验码（ two-edge type low density parity check, TET-LDPC码）是一种高效的信道纠错码,其性能受到删余变量节点度（ punctured variable node degree, PVN度）的影响。为了分析PVN度对TET-LDPC码纠错性能的影响,基于外信息转移图（ extrinsic information transfer, EXIT图）估算了TET-LDPC码在不同PVN度情况下的门限值,利用门限值的好坏来分析纠错性能的优劣,进而通过选取门限值好的PVN度优化TET-LDPC码。仿真结果显示,经过EXIT图优化的TET-LDPC码具有更好的纠错性能。利用EXIT图优化分析TET-LDPC码的方法,比现有的仿真试值法更加简捷、直观。
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