作者：陈功; 程壮; 陈昌旭弧触头高压断路器电寿命烧蚀动态电阻测量接触行程
摘要：弧触头状态是影响高压断路器电寿命的重要因素,断路器电寿命的减少意味着灭弧室开断能力与绝缘能力的降低,而目前尚无有效的方法能够对弧触头烧蚀状态进行检测。利用断路器合成试验回路产生短路电流,以模拟断路器触头在开断电弧过程中的烧蚀,并通过动态电阻测量得到了触头接触行程随触头烧蚀程度的变化关系。在保持开断电流值与燃弧时间不变的情况下,每次开断过程触头的烧蚀量基本一致,触头接触行程变化量基本不变。通过对弧触头烧蚀机理的理论分析,计算得到了每次烧蚀试验触头接触行程变化量为0.27 mm,计算结果与试验测量值0.32 mm基本一致。
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