同期相关面板数据退势单位根检验的小样本性质

作者：白仲林面板单位根检验小样本性质蒙特卡洛模拟

摘要：本文基于SUR回归将时间序列的两种单位根检验（ADF—GLS检验）推广到面板数据，得到了同期相关面板数据退势单位根检验，称为SUR—ADF—GLS检验。通过蒙特卡洛试验研究发现，SUR—ADF—GLS检验具有良好的小样本性质。并且，SUR—ADF—GLS检验关于面板数据的同期相关性结构存在着较强的“依存性”。

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