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用于射频和宽带IC设计的新型测试解决方案

作者:杨广懿射频信号测试解决方案ic设计无线技术标准宽带发展趋势测试手段测试设备用户需要

摘要:射频信号发展趋势 随着射频应用范围越来越广泛,新的无线技术标准不断涌现,用户需要测试设备及测试手段来覆盖这些新的标准和技术.

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

世界电子元器件

《世界电子元器件》是一本有较高学术价值的月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度,颇受业界和广大读者的关注和好评。 《世界电子元器件》报道并分析国内外电子元器件行业发展现状及趋势,提供半导体、元器件最新设计方案,集研发、应用和解决方案为一体,是了解世界电子元器件行业现状及发展的重要信息窗口。

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