作者：JohnSwanstrom天线测量rcs测量测试时间配置降低方案典型试配复杂
摘要：随着变得越来越复杂,其测试要求也变得越来越复杂,相应的技术也正在不断变化,这些技术进步可以提供一条降低总测试时问的途径,从而提高测试量程的生产效率.本文将介绍这种新技术在天线/RCS测量中的特点、配置,典型天线/RCS测量方案,以及不同测量方案的测量时间比较,从而考察这种新技术在天线测量中降低测量时间的效果.
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