作者：张元璋; 方名戌; 吴嵩; 虞婧质量控制图直读光谱高纯银
摘要：以测定高纯银杂质中铜、铅、硒含量的直读光谱分析数据为例，通过平均值、极差、上下控制限及中心线的计算，绘制了X-R质量控制图，该图可有效验证直读光谱仪器的稳定性，确保检测结果可控准确。
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《上海计量测试》（CN：31-1424/TB）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《上海计量测试》及时准确报道国家及华东地区、上海市有关计量政策法规信息,浏览国内外计量科学发展动态,介绍先进实用的计量测试技术,披露最新的仪器仪表及其技术。
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