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高隔离度的双极化口径耦合微带单元与阵列天线

作者:梁仙灵; 钟顺时; 汪伟微带天线阵列双极化口径耦合隔离度

摘要:提出一种新型的双极化微带贴片单元与其阵列设计,该单元采用一对相互垂直的“H”形缝隙作口径耦合馈电,获得了良好的端口隔离度(在工作频带8.8~9.8GHz内实测值大于42dB).该结构用于SAR系统天线的子阵设计时,其网络布置较为简单.基于此设计,研制了八单元直线阵列天线,理论仿真和实验相当吻合,不但测得高的端口隔离度(〉30dB),而且实测的交叉极化特性很好(〈-32.5dB).

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上海大学学报·自然科学版

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