作者：董永军; 周国清; 苏良碧; 杨卫桥; 徐军caf2晶体包裹物温度梯度法氟化钙光学显微镜sem观察微区edx成分分析
摘要：本文对温度梯度法生长的氟化钙(CaF2)晶体中的包裹物进行了研究，用光学显微镜和SEM观察了包裹物的形貌，对晶体中的包裹物和透明部分作了微区EDX成分分析，对包裹物所含的杂质进行了解释，提出了减小或消除包裹物的措施。分析结果表明：包裹物的主要成分是碳和氧，碳来源于石墨坩埚和石墨发热体，而杂质氧则来源于原料中的含氧化合物和生长过程气氛中氧的进入。
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