粉粒体检测用料位计[刊，日]∥粉体と工业

作者：陈宏勋粉粒体粉体料位计物料料位传感器物性用料体检微波测定

摘要：一般料位传感器大多用于连续跟踪测定料位变化的范围，但也有用于测定到达上、下位置的特定点。不论用于何种场合，它均是直接利用被测定物料的物性，例如：静电电容式是利用被测对象物的固有导电率；超声波式则是跟踪传播媒体中的超声波速度；微波式是利用由于电磁场振动而引起的微波等。进而对粉粒体还可遇到其粒子形状、

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