随机耦合模型中损耗因子的分析与获取

作者：杨浩; 乐波; 闫二艳; 林江川随机耦合模型损耗因子高功率微波效应电磁干扰

摘要：随机耦合模型（RCM）是研究电磁脉冲干扰下波混沌系统中感应电压统计预测的新方法，其中波混沌腔体损耗因子的获取是这种方法使用的关键。从随机耦合模型理论出发，分析了损耗因子对腔体阻抗随频率变化特性的影响，探讨了不同损耗因子下归一化阻抗矩阵的统计特性，提出了使用腔体散射阻抗与辐射阻抗的比值作对照，以快速获取腔体损耗因子的新方法。

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