作者:高松信; 魏彬; 吕文强; 武德勇; 邵冬竹; ...二极管激光器失效腔面退化封装
摘要:利用统计分析手段,对高功率二极管激光器封装中各工艺环节引起器件失效的原因进行了分析和归类。根据几种失效模式的分析结果,焊接空隙、结短路、腔面退化是引起高功率DL失效的主要模式.针对高功率二极管激光器失效的主要模式,对焊料沉积夹具及焊接工艺参数进行了改进和优化.大大提高了封装工艺水平.使封装的器件成品率由原来的77%提高到了85%以上。
注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社
《强激光与粒子束》(CN:51-1311/O4)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《强激光与粒子束》主要报道我国高能激光与粒子束技术领域的基础理论、实验与应用研究的成果和最新进展。内容涉及高功率激光、高功率微波与粒子束的产生、传输及其与物质的相互作用,加速器及高功率脉冲功率技术。
SCI期刊、北大期刊、CSCD期刊、统计源期刊
人气 34461 评论 44
北大期刊、CSCD期刊、统计源期刊
人气 23929 评论 47
CSCD期刊、统计源期刊
人气 19184 评论 48
人气 16743 评论 47