二元自相关过程的残差T^2控制图

作者：杨穆尔; 孙静多元统计过程控制自相关过程

摘要：多元自相关过程不满足现行多元质量控制理论的前提假设。该文探讨了两个随机变量相互独立，其中一个随机变量的观测值相互独立、另一随机变量服从一阶自回归模型的二元自相关过程。在参数已知的条件下，提出了二元自相关过程的残差T^2控制图。通过Monte Carlo模拟，得到了一族该二元自相关过程在不同偏移量下的平均链长。分析结果表明残差T^2控制图的适用范围由自相关的强弱和偏移量的大小决定，可以有效监控大部分该类二元自相关过程。

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