作者：赵阿玲; 贺卫利; 陈建新白光led寿命试验失效分析
摘要：对新型大功率GaN基蓝光芯片激发荧光粉发射白光的LED进行电流应力加速寿命测试和可靠性研究,考察白光LED主要性能参数随老化时间的变化,结果表明：经过5 000多小时的老化,光通量平均降至初始值的77.5%;发光效率变化趋势与光通量变化基本一致;峰值波长没有明显的变化趋势,而相关色温随老化时间增加逐渐升高;正向导通电压也随老化时间增加而升高.实验表明样品参数型失效主要包括发光效率的降低和荧光粉转换效率的降低.
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