作者：宋霞 杨双花 翟智卫低稀释比玻璃熔片法x射线荧光光谱法高纯硅石系列标准样品
摘要：用市售硅石、硅砖国家标准物质和SiO2基准试剂配制出一系列适当含量范围的标准样品，采用低稀释比玻璃熔片法，研究了高纯硅石中主次成分的X射线荧光光谱分析方法，并且对熔剂种类、稀释比、熔样条件进行了系统研究。国家硅石标准物质的测定值与标准值相一致，应用于实际样品的测定并和化学法比较，分析结果也基本一致。该方法操作简单、快速，结果准确，精密度好，具有良好的实用性。
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