作者：徐永宏基体效应痕量荧光光谱法拟合法偏最小二乘法样品制备精密度制样研究工作曲线
摘要：研究了用X荧光光谱法测定钢中痕量钙，通过砂带式磨样机磨制样品后建立工作曲线，偏最小二乘法(PLS)和多项式曲线拟合法校正基体效应。本方法具有样品制备简单，制样成本低，基体效应小，操作简便等特点，分析结果的准确度和精密度符合生产要求。
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