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横河电机新型SOC测试系统驱动时序提高60%第-i017页
关键词: soc测试  手机  时序  驱动  lsi  超薄  数码家电  销售对象  厂商  上市  
2005年第01期 《电源技术应用》
一种基于核设计的SOC测试控制体系结构第519-521页
关键词: soc测试  控制体系结构  核设计  控制结构  soc系统  集成电路  电路测试  边界扫描  控制方法  控制部分  复杂性  ip核  
使用重复播种和Golomb编码的二维测试数据压缩第394-399页
关键词: soc测试  二维压缩  重复播种  golomb编码  解压结构  
基于变移霍夫曼编码的SOC测试数据压缩第1114-1118页
关键词: soc测试  数据压缩  hsc编码  解码器  
2005年第11期 《仪器仪表学报》
减小SoC系统测试功耗的方法第64-66页
关键词: 功耗  soc测试  soc系统  电平  阵列结构  电源电压  电容  寄存器  扫描  翻转  
2005年第02期 《世界电子元器件》
基于ATE的SOC共时测试的实现方法第67-70页
关键词: soc测试  共时测试  ate  测试方法  
日本电子测试测量仪器走向复苏第38-38页
关键词: 电子测试  日元  日本  市场  需求  it  快速发展  soc测试  拍照手机  半导体  
2004年第11A期 《电子产品世界》
科利登新设工程培训中心,继续得到用户认可第19-19页
关键词: 培训中心  科利登系统公司  工程  认可  用户  自动测试仪器  半导体产品  soc测试  首席执行官  工业大学  特性分析  混合信号  产业市场  测试设备  实践经验  中国  总裁  
2005年第07B期 《电子产品世界》
爱德万测试2004年技术研讨会成功召开第39-39页
关键词: 北京  召开  部门  技术研讨会  成功  工程师  苏州  soc测试  ic测试  互动交流  
2005年第01期 《中国集成电路》
中日将在新概念的SoC测试中展开新的合作第4-8页
关键词: 中日  新概念  展开  soc测试  
科利登与北方工业大学合作成立工程培训中心第70-70页
关键词: 培训中心  工业大学  合作  北方  2004年6月  科利登系统公司  工程  测试解决方案  半导体工业  半导体产品  soc测试  特性分析  混合信号  供应商  
安捷伦科技为SOC测试系统推出业内先配有八个并行单元的音频/视频卡——集成式模拟卡使蜂窝基带和其它混合信号SOC/SIP的测试成本降低20%第25-25页
关键词: 基带  混合信号  测试成本  soc测试  sip  安捷伦科技  蜂窝  并行  集成式  
2004年第05期 《电子测量技术》
安捷伦科技为SOC测试系统推出业内先配有八个并行单元的音频/视频卡第67-67页
关键词: soc测试  安捷伦科技公司  基带  混合信号  测试成本  sip  模拟测试  并行  插件  
2004年第06期 《电子测量技术》
大唐微电子选择安捷伦业内领先的93000 SOC系列进行通信SOC测试第35-35页
关键词: soc测试  安捷伦科技公司  微电子技术  通信  混合信号  器件  高级  大唐  中国  最大  
SOC中嵌入式核测试标准IEEE P1500综述与研究第17-20页
关键词: ieee  测试标准  嵌入式核  综述  soc测试  设计技术  制造技术  深亚微米  集成电路  设计规模  系统集成  详细介绍  描述语言  访问机制  测试集成  ip核  ctl  tam  
安捷伦科技为SOC测试系统推出——业内第一个配有八个并行单元的音频/视频卡第-J001页
关键词: soc测试  安捷伦科技  基带  混合信号  mp3播放机  手机  测试成本  并行  声卡  
2004年第10期 《半导体技术》
一种有效的双矢量测试BIST实现方案第116-120页
关键词: soc测试  双矢量测试  maf  模型  
迎击SoC测试新挑战 安捷伦93000单一平台包揽多种测试应用第75-75页
关键词: soc测试  安捷伦科技  测试成本  半导体测试  soc芯片  测试平台  功能  事业部  开发商  新挑战  
2004年第10期 《电子测试》
新产品之窗第61-61页
关键词: soc测试  thr880  安捷伦  tetra  阿尔卡特  wlan  诺基亚  ssl  平台  bist  
2004年第10期 《现代电信科技》
科利登与北方工大合作成立IC工程培训中心第27-27页
关键词: 培训中心  工程  合作  北方  科利登系统公司  ic  半导体产品  soc测试  工业大学  特性分析  
2005年第07期 《集成电路应用》