HI,欢迎来到学术之家,发表咨询:400-888-7501  订阅咨询:400-888-7502  股权代码  102064
0
首页 论文大全 软错误论文 列表
期刊分类
期刊收录
出版地区
单粒子多瞬态诱导的组合电路软错误敏感性评估第16-19页
关键词: fpga  组合电路  单粒子多瞬态  软错误  
流水线电路的容错设计第28-31页
关键词: 软错误  锁存器  触发器  
一种交叉互联的高可靠锁存器第95-100页
关键词: 可靠性  dnus  seu  功耗  软错误  
2019年第11期 《测控技术》
基于BF548的内存软错误监视和自纠错设计第77-79页
关键词: 软错误  代码监视  ser  自纠错  
2019年第10期 《工业控制计算机》
单粒子软错误的数值仿真技术第1-18页
关键词: 辐射效应  单粒子效应  软错误  直接电离  间接电离  电荷收集  数值仿真  集成电路  
2018年第02期 《现代应用物理》
基于混合三模冗余的容忍双点翻转锁存器第968-974页
关键词: 软错误  双点翻转  混合三模冗余  加固锁存器  
65nmCMOS工艺的低功耗加固12T存储单元设计第504-512页
关键词: 抗辐射加固设计  软错误  单粒子翻转  存取可靠性  存储单元  
一种应用于SRAM型FPGA寄存器的容错设计第75-79页
关键词: 双模冗余  故障容错  寄存器  软错误  三模冗余  
2018年第09期 《中国测试》
基于多目标PSO算法的DSP防护优化设计第74-80页
关键词: 数字信号处理器  单粒子翻转  软错误  粒子群优化算法  软防护  
2018年第04期 《计算机工程》
一种容SEU的新型自恢复锁存器第685-689页
关键词: 软错误  单粒子翻转  时钟门控  加固锁存器  
2017年第05期 《微电子学》
抗单粒子翻转的低功耗锁存器设计第1549-1556页
关键词: 单粒子翻转  软错误  c单元  瞬态故障  自恢复  
40 nm CMOS工艺下的低功耗容软错误锁存器第1464-1471页
关键词: 软错误  单粒子翻转  单粒子瞬态  加固锁存器  
2017年第06期 《电子与信息学报》
一种容软错误的可编程老化预测传感器第1-4页
关键词: 负偏置温度不稳定性  老化  软错误  
一种基于FPGA的微处理器软错误敏感性分析方法第245-249页
关键词: fpga  故障注入  单粒子翻转  软错误  敏感性分析  
2017年第01期 《电子与信息学报》
65nm工艺双层三维静态存储器的软错误分析与评估第20-25页
关键词: 三维静态存储器  软错误  分析平台  翻转截面  单粒子翻转  多位翻转  
触发器可靠度计算的F-PTM方法第2219-2226页
关键词: 软错误  触发器  可靠度评估  概率转移矩阵  半张量积  
2016年第09期 《电子学报》
容忍单粒子多节点翻转的三模互锁加固锁存器第750-756页
关键词: 加固锁存器  多节点翻转  软错误  三模互锁  
65nm工艺下单粒子加固锁存器设计第1393-1400页
关键词: 软错误  单粒子翻转  单粒子瞬态  加固锁存器  时间冗余  
一种高性能低功耗SEU免疫锁存器第524-529页
关键词: 加固锁存器  瞬态故障  单粒子翻转  软错误  门控时钟电路  
2016年第04期 《微电子学》
软错误率变动对检查点机制的影响第1790-1800页
关键词: 容错  软错误  错误变动性  检查点  自适应  
2016年第09期 《计算机学报》