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单粒子多瞬态诱导的组合电路
软错误
敏感性评估
第16-19页
关键词: fpga 组合电路 单粒子多瞬态 软错误
2019年第11期
《微电子学与计算机》
流水线电路的容错设计
第28-31页
关键词: 软错误 锁存器 触发器
2010年第09期
《信息技术与网络安全》
一种交叉互联的高可靠锁存器
第95-100页
关键词: 可靠性 dnus seu 功耗 软错误
2019年第11期
《测控技术》
基于BF548的内存
软错误
监视和自纠错设计
第77-79页
关键词: 软错误 代码监视 ser 自纠错
2019年第10期
《工业控制计算机》
单粒子
软错误
的数值仿真技术
第1-18页
关键词: 辐射效应 单粒子效应 软错误 直接电离 间接电离 电荷收集 数值仿真 集成电路
2018年第02期
《现代应用物理》
基于混合三模冗余的容忍双点翻转锁存器
第968-974页
关键词: 软错误 双点翻转 混合三模冗余 加固锁存器
2018年第05期
《计算机辅助设计与图形学学报》
65nmCMOS工艺的低功耗加固12T存储单元设计
第504-512页
关键词: 抗辐射加固设计 软错误 单粒子翻转 存取可靠性 存储单元
2019年第03期
《计算机辅助设计与图形学学报》
一种应用于SRAM型FPGA寄存器的容错设计
第75-79页
关键词: 双模冗余 故障容错 寄存器 软错误 三模冗余
2018年第09期
《中国测试》
基于多目标PSO算法的DSP防护优化设计
第74-80页
关键词: 数字信号处理器 单粒子翻转 软错误 粒子群优化算法 软防护
2018年第04期
《计算机工程》
一种容SEU的新型自恢复锁存器
第685-689页
关键词: 软错误 单粒子翻转 时钟门控 加固锁存器
2017年第05期
《微电子学》
抗单粒子翻转的低功耗锁存器设计
第1549-1556页
关键词: 单粒子翻转 软错误 c单元 瞬态故障 自恢复
2017年第08期
《计算机辅助设计与图形学学报》
40 nm CMOS工艺下的低功耗容
软错误
锁存器
第1464-1471页
关键词: 软错误 单粒子翻转 单粒子瞬态 加固锁存器
2017年第06期
《电子与信息学报》
一种容
软错误
的可编程老化预测传感器
第1-4页
关键词: 负偏置温度不稳定性 老化 软错误
2017年第04期
《仪表技术与传感器》
一种基于FPGA的微处理器
软错误
敏感性分析方法
第245-249页
关键词: fpga 故障注入 单粒子翻转 软错误 敏感性分析
2017年第01期
《电子与信息学报》
65nm工艺双层三维静态存储器的
软错误
分析与评估
第20-25页
关键词: 三维静态存储器 软错误 分析平台 翻转截面 单粒子翻转 多位翻转
2016年第05期
《国防科技大学学报》
触发器可靠度计算的F-PTM方法
第2219-2226页
关键词: 软错误 触发器 可靠度评估 概率转移矩阵 半张量积
2016年第09期
《电子学报》
容忍单粒子多节点翻转的三模互锁加固锁存器
第750-756页
关键词: 加固锁存器 多节点翻转 软错误 三模互锁
2016年第05期
《电子科技大学学报》
65nm工艺下单粒子加固锁存器设计
第1393-1400页
关键词: 软错误 单粒子翻转 单粒子瞬态 加固锁存器 时间冗余
2016年第08期
《计算机辅助设计与图形学学报》
一种高性能低功耗SEU免疫锁存器
第524-529页
关键词: 加固锁存器 瞬态故障 单粒子翻转 软错误 门控时钟电路
2016年第04期
《微电子学》
软错误
率变动对检查点机制的影响
第1790-1800页
关键词: 容错 软错误 错误变动性 检查点 自适应
2016年第09期
《计算机学报》
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