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一款用于多媒体处理的异构多核系统芯片的
可测试性设计
第1239-1252页
关键词: 可测试性设计 测试访问机制 测试调度 片上时钟控制单元 存储器内建自测试
2014年第10期
代表扫描——一种低功耗
可测试性设计
结构
第511-522页
关键词: 数字集成电路测试 可测试性设计 扫描结构 低功耗测试 代表扫描
2016年第04期
基于时间数字转换的硅通孔绑定前测试方法
第260-274页
关键词: 可测试性设计 内建自测试 三维集成电路 硅通孔 时间数字转换
2017年第02期
多普勒水流测速仪信号处理平台设计与实现
第121-124页
关键词: 多普勒 信号设计 模拟信号产生 可测试性设计
2012年第A01期
《南水北调与水利科技》
基于边界扫描技术的互连测试
第45-46页
关键词: 边界扫描技术 可测试性设计 互连测试 集成电路
2005年第03期
《电子元器件应用》
边界扫描测试技术的发展和影响
第40-41页
关键词: 边界扫描 测试 可测试性设计 集成电路
2005年第01期
《电子元器件应用》
SEMICON CHINA2006展览会将于2006年3月在上海新国际博览中心举行
第40-40页
关键词: 中国半导体产业 芯片制造 半导体制造 展览总面积 集成电路行业 深亚微米 日至 制造技术 可测试性设计 产品化
2005年第05期
《半导体信息》
基于计算机并行口的JTAG控制器设计
第685-688页
关键词: jtag 并行口 控制器设计 计算机 程序下载 可编程芯片 边界扫描 vlsi电路 路测 可测试性设计
2004年第06期
《核电子学与探测技术》
SoC设计中的扫描测试技术
第2685-2689页
关键词: soc 可测试性设计 扫描设计 层次化设计方法
2005年第12期
《计算机辅助设计与图形学学报》
Mentor与Teradyne 携手推出ATE-Connect测试技术显著加快芯片调试和调通
第32-32页
关键词: ect技术 ct测试 调试 siemens 芯片 可测试性设计 智能产品 标准接口
2019年第01期
《中国集成电路》
为产品
可测试性设计
DSP软件
第87-88页
关键词: 可测试性设计 dsp应用 软件 模块 性能 代码 大系统 复杂性 工程师
2005年第01B期
《电子产品世界》
数字信号处理器芯片核NDSP25的
可测试性设计
第169-171页
关键词: ndsp25芯片核 可测试性设计 内建自测试
2004年第15期
《计算机工程》
测试与
可测试性设计
发展的挑战
第33-37页
关键词: 可测试性设计 可控制性 可观察性 系统芯片
2005年第02期
《半导体技术》
应用于FPGA芯片的边界扫描电路
第326-329页
关键词: 边界扫描 现场可编程门阵列 可测试性设计 器件编程
2004年第03期
《微电子学》
CMOS IC漏极静态电流测试技术的现状与发展
第446-450页
关键词: cmos 故障检测 漏极静态电流 可测试性设计 集成电路
2004年第04期
《微电子学》
SOC设计方法学和
可测试性设计
研究进展
第235-240页
关键词: 系统芯片 设计复用 可测试性设计 测试访问机制 内建自测试
2004年第03期
《微电子学》
SOC
可测试性设计
与测试技术
第153-162页
关键词: 芯片系统 可测试性设计 测试资源划分 测试资源优化
2005年第01期
《计算机研究与发展》
应用边界扫描技术提高电路板可测试性的两种优化问题
第43-46页
关键词: 可测试性设计 边界扫描 优化 算法
2004年第11期
《微电子学与计算机》
雷达数据采集与特征提取系统BIT设计与实现
第1-4页
关键词: 雷达 数据采集 特征提取 bit 内建测试 可测试性设计 fpga dsp
2004年第01期
《信息化研究》
离散萤火虫算法的复杂装备测试点优化选择
第1357-1367页
关键词: 可测试性设计 测试点优化选择 萤火虫算法 元启发式搜索
2017年第05期
《光学精密工程》
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