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一款用于多媒体处理的异构多核系统芯片的可测试性设计第1239-1252页
关键词: 可测试性设计  测试访问机制  测试调度  片上时钟控制单元  存储器内建自测试  
2014年第10期
代表扫描——一种低功耗可测试性设计结构第511-522页
关键词: 数字集成电路测试  可测试性设计  扫描结构  低功耗测试  代表扫描  
2016年第04期
基于时间数字转换的硅通孔绑定前测试方法第260-274页
关键词: 可测试性设计  内建自测试  三维集成电路  硅通孔  时间数字转换  
2017年第02期
多普勒水流测速仪信号处理平台设计与实现第121-124页
关键词: 多普勒  信号设计  模拟信号产生  可测试性设计  
基于边界扫描技术的互连测试第45-46页
关键词: 边界扫描技术  可测试性设计  互连测试  集成电路  
2005年第03期 《电子元器件应用》
边界扫描测试技术的发展和影响第40-41页
关键词: 边界扫描  测试  可测试性设计  集成电路  
2005年第01期 《电子元器件应用》
SEMICON CHINA2006展览会将于2006年3月在上海新国际博览中心举行第40-40页
关键词: 中国半导体产业  芯片制造  半导体制造  展览总面积  集成电路行业  深亚微米  日至  制造技术  可测试性设计  产品化  
2005年第05期 《半导体信息》
基于计算机并行口的JTAG控制器设计第685-688页
关键词: jtag  并行口  控制器设计  计算机  程序下载  可编程芯片  边界扫描  vlsi电路  路测  可测试性设计  
SoC设计中的扫描测试技术第2685-2689页
关键词: soc  可测试性设计  扫描设计  层次化设计方法  
Mentor与Teradyne 携手推出ATE-Connect测试技术显著加快芯片调试和调通第32-32页
关键词: ect技术  ct测试  调试  siemens  芯片  可测试性设计  智能产品  标准接口  
2019年第01期 《中国集成电路》
为产品可测试性设计DSP软件第87-88页
关键词: 可测试性设计  dsp应用  软件  模块  性能  代码  大系统  复杂性  工程师  
2005年第01B期 《电子产品世界》
数字信号处理器芯片核NDSP25的可测试性设计第169-171页
关键词: ndsp25芯片核  可测试性设计  内建自测试  
2004年第15期 《计算机工程》
测试与可测试性设计发展的挑战第33-37页
关键词: 可测试性设计  可控制性  可观察性  系统芯片  
2005年第02期 《半导体技术》
应用于FPGA芯片的边界扫描电路第326-329页
关键词: 边界扫描  现场可编程门阵列  可测试性设计  器件编程  
2004年第03期 《微电子学》
CMOS IC漏极静态电流测试技术的现状与发展第446-450页
关键词: cmos  故障检测  漏极静态电流  可测试性设计  集成电路  
2004年第04期 《微电子学》
SOC设计方法学和可测试性设计研究进展第235-240页
关键词: 系统芯片  设计复用  可测试性设计  测试访问机制  内建自测试  
2004年第03期 《微电子学》
SOC可测试性设计与测试技术第153-162页
关键词: 芯片系统  可测试性设计  测试资源划分  测试资源优化  
应用边界扫描技术提高电路板可测试性的两种优化问题第43-46页
关键词: 可测试性设计  边界扫描  优化  算法  
雷达数据采集与特征提取系统BIT设计与实现第1-4页
关键词: 雷达  数据采集  特征提取  bit  内建测试  可测试性设计  fpga  dsp  
2004年第01期 《信息化研究》
离散萤火虫算法的复杂装备测试点优化选择第1357-1367页
关键词: 可测试性设计  测试点优化选择  萤火虫算法  元启发式搜索  
2017年第05期 《光学精密工程》