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内建自测试多特征混淆模型第74-78页
关键词: 内建自测试  线性反馈移位寄存器  混淆概率  马尔可夫过程  
2010年第02期 《海军工程大学学报》
基于微程序设计的内建自测试技术研究第20-22页
关键词: 微程序  微指令  内建自测试  线性反馈移位寄存器  混淆概率  
2011年第05期 《国外电子测量技术》
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