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基于FPGA的集成电路测试系统设计探讨

作者:金山fpga集成电路测试系统设计

摘要:由于集成电路功能和参数的不断增加,其稳定性也受到了一定的威胁。因此,要想保证集成电路的稳定性,测试系统的存在是非常必要的,本文在FPGA的基础之上,对集成电路测试系统设计的一些相关内容,进行了分析和阐述,其主要目的就是判断集成电路运行是否处于稳定的状态。

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科学与信息化

《科学与信息化》(CN:12-1451/N)是一本有较高学术价值的大型旬刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《科学与信息化》杂志坚持正确的舆论导向,介绍信息化技术及其应用知识,传播科学理念,倡导创新精神,普及提高大众信息化知识水平。

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