数字电路测试中的关键技术研究

作者：郭希维; 苏群星; 谷宏强测试与诊断故障模型可测试性度量atpg

摘要：随着数字电路的广泛应用．电路的测试与故障诊断已成为其设计与生产过程的重要组成部分。讨论了电路的测试及故障诊断中的一些问题．主要包括故障模型、故障仿真、故障压缩及可测试性度量与测试矢量生成算法（ATPG），并研究了电路测试技术的发展趋势．

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