作者：刘志强芯片测试自动化降低成本
摘要：在集成电路(IntegratedCircuit,简称IC)研发中,IC测试验证成本占IC设计的相当重要的一部分,测试成本与测试所用的时间是成正比的。由于芯片在研发测试需要对模拟IP,数字IP进行大量测试,所以在IC研发测试中需要加强自动化使用程度,提高工作效率。本论文主要设计实现测试中芯片的部分功能:FLASH解锁、内部基准电压校准、LASH擦除、FLASH读写、内部晶振、串口功能、芯片空载电流得效果。
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