作者：张培明; 商进; 李晓龙系统芯片蚁群算法遗传算法低功耗测试
摘要：针对系统芯片测试功耗快速增加的特点,提出了一种有效的低功耗测试方案。该方案将测试向量的海明距离作为测试功耗优化的目标,将测试功耗优化问题转化为对测试向量进行海明距离排序问题,采用一种改进的蚁群-遗传混合算法对测试向量进行排序,从而使测试功耗最低。针对ISCAS 89部分标准电路实验结果表明,该方案能有效的降低测试功耗。
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