作者:张利巍; 秦显荣; 李伟牛顿环检验光学元件实验论证
摘要:简单阐述牛顿环干涉原理及利用牛顿环检验光学元件表面质量的原理。选取一个透镜试样,对其表面质量进行检验,根据实验现象、实验数据总结检测结果,并进行必要的讨论且给出定性分析的结果。
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《科学技术创新》(CN:23-1600/N)是一本有较高学术价值的大型旬刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《科学技术创新》杂志以刊登实用信息技术转让科研成果为主要内容,侧重于科研成果转让,同时为广大科技、经济工作者提供一个展示平台,以弘扬科教兴国、科学技术是第一生产力为办刊宗旨,读者对象为广大科技、经济教育工作者和中小企业。
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