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集成电路老化试验温度测控系统的设计

作者:吴瑞芳集成电路老化测试labview单片机温度测控

摘要:集成电路广泛应用于航空、航天、通信、工业控制等行业,一些工作严苛的工作场所对集成电路的可靠性要求很高,因此需要对每个器件在常温和额定功率条件下进行常规的老化测试。借助单片机作为下位机实现现场温度采集,结合Lab VIEW的测控技术和智能化功能,可有效实现对温度的检测与控制。

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考试周刊

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