作者：葛懿; 杨瑞; 郁慧珍; 张修银表面粗糙度上釉抛光sironacerecblocs陶瓷
摘要：目的 比较不同表面处理对Sirona CEREC Blocs陶瓷表面粗糙度的影响.方法 按照不同的表面处理方式将试件分为7组：对照组（A）、自身上釉组（B）、釉膏上釉组（C）、2组不同松风抛光方案组（D、E）,2组不同EVE抛光方案组（F、G）,测量试件表面处理后的粗糙度值,体视显微镜定性分析试件表面形貌.结果 各组粗糙度值依次为：A组（0.139±0.010）μ m、B组（0.129±0.006）μm、C组（0.090±0.029） μm、D组（0.145±0.009）μ m、E组（0.101±0.007）μ m、F组（0.172±0.016）μ m、G组（0.278±0.027）μ m;A组与C组、D组与E组、D组与G组、E组与F组、E组与G组及F组与G组之间均有显著性差异（P＜0.05）,A组与B组、C组与E组及D组与F组之间均无统计学差异（P＞0.05）：体视显微镜分析结果与粗糙度值分析结果一致.结论 釉膏上釉较其它表明处理方式效果好,不同的抛光工具对Sirona CEREC Blocs陶瓷的抛光效果不同,其中松风抛光工具抛光效果堪比釉膏上釉的效果.
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