作者：陈昌鑫; 王宇; 马铁华存储测试仪磁场屏蔽屏蔽效能建模仿真
摘要：针对存储测试仪的磁场屏蔽效能优化问题,采用控制变量法和变量扫描法,利用Ansoft Maxwell有限元分析软件对测试仪屏蔽体的形状、材料和壳体壁厚这3个参数进行建模仿真,然后对不同参数的仿真结果进行对比,分析屏蔽体不同参数对屏蔽效能的影响。仿真结果表明,金属屏蔽体屏蔽效能受屏蔽体的形状、材料和壳体壁厚影响且影响不可忽略,通过选用磁导率大的圆柱体金属屏蔽体、增加屏蔽体壁厚,可增大屏蔽体屏蔽效能,同时通过理论计算验证了仿真结果。
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