作者:王新华 王建芬闩锁触发信号完整性双电源系统
摘要:针对CMOS器件的闩锁现象,结合三种实际的应用电路分析了电路系统中闩锁的几种典型表现形式及其解决的方法,讨论了电路设计时避免闩锁的一般性原则。这些分析方法及解决措施源于实际的系统设计,并经过了大量的验证,简单有效,对于应用系统的抗闩锁设计具有普遍的参考价值。
注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社
《科技与创新》(CN:14-1369/N)是一本有较高学术价值的大型半月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。
部级期刊
人气 1073660 评论 53
省级期刊
人气 845823 评论 70
人气 806481 评论 68
人气 753021 评论 72