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电路设计中CMOS器件闩锁的分析与对策

作者:王新华 王建芬闩锁触发信号完整性双电源系统

摘要:针对CMOS器件的闩锁现象,结合三种实际的应用电路分析了电路系统中闩锁的几种典型表现形式及其解决的方法,讨论了电路设计时避免闩锁的一般性原则。这些分析方法及解决措施源于实际的系统设计,并经过了大量的验证,简单有效,对于应用系统的抗闩锁设计具有普遍的参考价值。

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科技与创新

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