作者：文亮; 杨孟飞容错方法soc集成电路技术空间辐射环境fpga实现单粒子翻转cache存储控制器电子系统技术实现容错能力故障模式sramn处理器容错设计航天器发生率飞行器优缺点seuleo寄存器
摘要：航天器的结构越来越复杂，体积在不断减小，集成电路技术也在不断的发展，为此，用SoC技术实现星载电子系统成为必然趋势。然而，空间辐射环境对系统的容错能力有特殊的要求。通过对故障模式的分析，发现单粒子翻转(SEU)故障的发生率要远远高于其它故障，对飞行器的危害也最为严重。本文分析了常见的SEU容错方法各自的优缺点。并针对基于SRAM的FPGA实现SoC时的容错方法进行了探讨。最后，通过对LEON处理器核的IU、Cache、存储控制器以及片上寄存器等典型逻辑分别采用不同方法进行容错设计，验证了几种容错方法的可行性，并给出了设计结果。
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