作者:张帆低功耗自检集成电路静态检测
摘要:本文提出了一种专用芯片自检集成电路设计方法,包括低功耗LDO、内部振荡器、自检激励ROM、时钟PLL等,通过相当于一个普通芯片的IO的驱动电流大小的上电小电流驱动,可完成整个专用芯片静态自检,实现专用芯片的静态快速低功耗自检。
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