作者：朱艳丽研发强度创新速度公司价值面板门限回归门限效应
摘要：基于面板门限回归模型,对2010—2016年我国A股上市公司研发强度、创新速度与上市公司价值之间的关系进行深入研究。结果表明:研发强度对上市公司价值的影响具有显著的门限效应,主要体现在创新速度处于不同区间范围,影响程度和方向各不相同。当创新速度处于“慢车道”时,研发强度与上市公司价值显著负相关;当创新速度处于“正常行车道”时,研发强度对上市公司价值的负效应有所减缓;当创新速度处于“快车道”时,研发强度增加能够带来上市公司价值提升。此外,我国上市公司中近六成创新能力不容乐观且行业差异显著,亟待提升创新意识、加大研发投入,通过创新助力上市公司价值提升。
注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社
