作者：张淑娟微处理器软硬件联合固件测试系统测试插件
摘要：针对微处理器固件缺陷隐藏较深,测试手段复杂且难度较大,测试效率低下,测试充分性难以保证等固件测试问题,在对微处理器固件架构和运行模式分析基础上,对微处理器固件运行模式和测试行为进行了数学建模分析,提出了一种基于软硬件联合的固件测试流程。在此研究基础上,采用软硬件联合处理的方法,设计实现了一种微处理器在线固件测试系统。测试系统由固件测试插件、硬件接口以及外部测试软件组成,可以实现微处理器固件程序系统的自动化测试和判读分析。固件测试插件嵌入在固件程序存储区内,对整个固件程序区进行访问读取。硬件接口实现外部测试软件与固件测试插件的数据缓存和交互。外部测试软件实现固件测试结果数据读取、判定和覆盖率统计分析。结合具体应用进行了测试验证,结果表明该方法的固件测试覆盖率达到91.33%,整个固件测试时间不超过5s。
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