作者:郭慧莹flash存储器并行耐久
摘要:传统的Flash存储器在擦写耐久测试中存在着效率低的问题,为解决这一问题,提出了Flash存储器并行耐久测试方案,通过试验对Flash存储器芯片的扇形擦写耐久性进行测试,统计了各个扇区的擦写次数以及耐久测试的时间,分析数据可以得出该方案能够有效提升Flash存储器芯片中扇区的测试效率,为企业节省了测试成本。
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《科技创新导报》(旬刊)创刊于2004年,由中国航天科技集团公司主管,中国宇航出版有限责任公司;北京合作创新国际科技服务中心主办,CN刊号为:11-5640/N,自创刊以来,颇受业界和广大读者的关注和好评。
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