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基于单片机的RCL智能测试仪系统研究

作者:刁帅单片机rcl智能测试仪振荡电路

摘要:利用单片机为核心形成的RCL智能测试仪对电阻、电容、电感元件参数进行实时测量时,可以充分利用单片机的智能运算和控制功能,不仅方便实现测量功能,同时还使测量精度得到有效提高。

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科技创新导报

《科技创新导报》(旬刊)创刊于2004年,由中国航天科技集团公司主管,中国宇航出版有限责任公司;北京合作创新国际科技服务中心主办,CN刊号为:11-5640/N,自创刊以来,颇受业界和广大读者的关注和好评。

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