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Ni掺杂Fe:In2O3稀磁半导体的结构和磁性能

作者:陈里; 姚静; 李咪稀磁半导体氧化铟固相反应掺杂改性室温磁性能

摘要:采用高温固相反应法制备出了(In0.9-xFe0.1Nix)2O3(x=0~0.03)。使用X射线衍射(XRD)、扫描电镜(SEM)、振动样品磁强计(VSM)分析了样品的微结构和室温下的磁性能。结果表明:不同烧结温度下(970°~1100°)对于0≤x≤0.02时,样品均为单相,晶格常数随x变大而降低,在x=0.02时取得最大饱和磁化强度Ms=1.267emu/g(T=300K)。x=0.03时有杂质相析出。对于Fe:In2O3体系无Ni掺杂时表现为顺磁,Ni掺杂后样品为室温铁磁性。结果表明:样品室温铁磁性与载流子浓度和磁性离子的引入有关。

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科技创新导报

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