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A/D转换芯片的静态参数测试

作者:范磊静态参数测试

摘要:本文主要介绍了A/D转换芯片的静态参数(以单极性为例),并给出了一种新的测试电路。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

科技创新导报

《科技创新导报》(旬刊)创刊于2004年,由中国航天科技集团公司主管,中国宇航出版有限责任公司;北京合作创新国际科技服务中心主办,CN刊号为:11-5640/N,自创刊以来,颇受业界和广大读者的关注和好评。

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